№ 1
Комплекс программно-аппаратного анализа микроструктуры поверхности твердых тел.
- Классификатор
- ОКПД2: 26.70.23.190 · Приборы и инструменты оптические прочие, не включенные в другие группировки
- Характеристики
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: тип электропитания: однофазное. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: Напряжение питания: Вольт. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: Частота напряжения питания: Герц. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Габаритные размеры: глубина: не менее 740, не более 760 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Габаритные размеры: ширина: не менее 350, не более 370 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Габаритные размеры: высота: не менее 400, не более 420 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
Показать ещё 48
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Корпус штатива металлический, пирамидальная конструкция: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Двусторонние рукоятки грубой/тонкой фокусировки: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Количество позиций в револьвере для объективов: не менее 5 Штука. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Встроенный датчик индикатора увеличения: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Осветительная система по принципу Келлера, с галогеновой лампой 12В: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Мощность галогенового осветителя: не менее 100 Ватт. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Разъемы для призмы ДИК, для поляризатора и анализатора методов контрастирования: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Индикаторная панель с отображением установленного увеличения и яркости лампы: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Полевая и апертурная диафрагма: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Механический двухкоординатный столик: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: ширина столика: не менее 250 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: глубина столика: не менее 240 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: Диапазон перемещения столика по осям X, Y: не менее 50 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Вставки для образцов – круглая 25 мм, круглая 12 мм, каплевидная: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Угол наклона окулярных трубок фиксированный 45 градусов: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Регулировка межзрачкового расстояния окуляров в диапазоне 50 – 75 мм: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Деление светового потока: 100:0/0:100. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Видимое поле тринокулярного тубуса: не менее 22 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: Методы контрастирования – светлое поле: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа: Методы контрастирования – темное поле: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Поддержка темнопольных объективов на каждой позиции объектива в револьвере: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Методы контрастирования - поляризация: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Конструктивное исполнение поляризатора и анализатора в форме слайдера: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Вращение анализатора в диапазоне 360 градусов: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Окуляры: - с 10х увеличением и линейным полем 22 мм; - с плоским полем и минимальной сферической аберрацией, - с резиновыми наглазниками, - вынесенной точкой фокуса и - независимой друг от друга диоптрийной коррекцией: Штука. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Объектив темнопольный, скорректированный на бесконечность, планахромат с апертурой 0.15, увеличение 5 крат: Штука. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Объектив темнопольный, скорректированный на бесконечность, планахромат с апертурой 0.3, увеличение 10 крат: Штука. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Объектив темнопольный, скорректированный на бесконечность, планахромат с апертурой 0.45, увеличение 20 крат: Штука. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Объектив темнопольный, скорректированный на бесконечность, полуапохромат с апертурой 0.8, увеличение 50 крат: Штука. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Цветная RGB камера с присоединительной резьбой формата С-Mount для установки на микроскоп и единым кабелем для питания и передачи данных, разрешение 2448 х 2048, 24 бит, USB 3.0, КМОП, глобальный затвор: Штука. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Кадровая скорость камеры: Кадровая скорость камеры ≥ 30 кадров/сек. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Оптическая система на базе инвертированного металлографического микроскопа:Адаптер 0,63Х: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Программное обеспечение: Инструменты для ручных измерений: - отрезок, площадь, угол, радиус кривизны, расстояние между кривыми, - микро- и макро- твердость, - измерение параметров надрезов на образцах для испытаний на ударную вязкость, - измерение доли вязкой составляющей на образцах после испытаний на ударную вязкость и испытаний падающим грузом, -измерение размера зерна методом секущих, - измерение доли фаз методом сеток; Проведение ручных измерений как на «живом» изображении, в режиме реального времени, так и на сохраненном в программе. должно быть не менее 500, при проведении измерений все они должны одновременно Количество ручных измерений на одном кадре отображаться на изображении; Измерение отпечатков для подсчета твердости по шкалам Бриннеля, Виккерса, Кнупа с возможностью конвертирования в шкалы HRC, HRB; Возможность построения профиля по яркости вдоль заданной линии; Экспорт любых результатов анализа в продукты MS Office; Ленточный интерфейс, Ribbon (Лента) или Microsoft Fluent Interface; Программное обеспечение должно быть локальным приложением для Windows и запускаться без использования сторонних программ; Программное обеспечение должно считывать информацию и управлять электронными компонентами микроскопа; Построение панорамных изображений высокого разрешения; Навигатор по панораме имеет управляющее окно с отслеживанием текущего положения поля зрения на панораме или образце; Набор методов обработки изображений для улучшения качества и распознавания сложных структур. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Программное обеспечение и алгоритмы обработки изображений должны быть аттестованы, как средство измерения, в соответствии с МИ 2174-91 в Комитете РФ по стандартизации, метрологии и сертификации: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Метрологические характеристики комплекса:Минимальное значение измеряемых линейных размеров: не более 0.005 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса: Максимальное значение измеряемых линейных размеров: не менее 300 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса: Погрешность измерения линейных размеров, при увеличении 5,0 крат: не менее 0.00396 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса: Погрешность измерения линейных размеров, при увеличении 1,0 крат: не менее 0.002 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса:Погрешность измерения линейных размеров, при увеличении 20,0 крат: не более 0.00101 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса:Погрешность измерения линейных размеров, при увеличении 50,0 крат: не более 0.00041 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса:Погрешность измерения линейных размеров, при увеличении 100,0 крат: не более 0.00021 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Метрологические характеристики комплекса:Погрешность измерения линейных размеров, при увеличении 150,0 крат: не более 0.0002 Миллиметр. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Срок сервисной поддержки и гарантийного обслуживание: не менее 12 Месяц. Указание по заполнению: Участник закупки указывает в заявке конкретное значение характеристики.
- Неограниченная во времени бесплатная дистанционная техническая поддержка и обновление программного обеспечения после окончания гарантийного срока: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Документы в составе заявки, подтверждающие соответствие: - Копия сертификата об утверждении типа средств измерений; - Копия описания типа средств измерений; - Копия свидетельства об аттестации программного обеспечения в соответствии с МИ 2174-91: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Лицензии на 1 год на модули для анализа по стандартам и методикам:: • ASTM Е 45-05. Стандартная методика определения содержания включений в стали. • DIN 50602-1985. Металлографические методы оценки содержания неметаллических включений в высококачественных сталях. • DIN EN 10247. Металлографическое определение содержания неметаллических включений в сталях. • КАНВ. Оценка коррозионно-активных неметаллических включений в стали. • ГОСТ 801-78. Сталь подшипниковая. Технические условия. Неметаллические включения. • ГОСТ Р51685-2013. Рельсы железнодорожные. Общие технические условия • ТУ ВНИИЖТ 0921-276-01124323-2012 • SEP 1572. Определение сульфидных включений в автоматных сталях. • ASTM E2283. Анализ экстремальных значений размеров неметаллических включений. • ГОСТ 5640. Сталь. Металлографический метод оценки микроструктуры листов и ленты. • ASTM E 1268-01. Стандартная методика определения степени полосчатости или ориентировки структуры. • ISO 945. Литейный чугун. Определение структуры графита; • Определение соотношения вязкой/ хрупкой составляющей на изломах образцов после ИПГ. (API-5l) • Определение соотношения вязкой/ хрупкой составляющей на изломах образцов менаже/шарпи • Металлографический метод оценки ликвационной полосы. • ГОСТ 801. Определение карбидной ликвации. • QV5. Пористость • Анализ дендритной структуры. Определение расстояния между осями второго порядка Методика металлографических измерений блоков бейнита реечной морфологии в наноструктурированных сталях. Свидетельство об аттестации 44/15.12.15-01.00276-2014 от 15.12.2015 • Методика металлографических измерений структурной полосчатости в наноструктурированных сталях. Свидетельство об аттестации 45/15.12.15-01.00276-2014 от 15.12.2015 • Методика металлографических измерений размеров зерна в наноструктурированных сталях. Свидетельство об аттестации 47/18.12.15-01.00276-2014 от 18.12.2015 Методика металлографических измерений размера, объемного содержания и характера распределения неметаллических включений в наноструктурированных сталях. Свидетельство об аттестации 46/15.12.15-01.00276-2014 от 15.12.2015. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Лицензии на 1 год на модули для анализа по стандартам и методикам: • Методика ОАО "АВТОВАЗ". Микроскопический анализ металлических материалов Классификация графита в чугуне. • ASTM A247. Стандартный метод оценки микроструктуры графита в чугунном литье. • ASTM 2567-11. Методика количественной оценки шаровидности графита. • Определение размера перлитных колоний. (ГОСТ 5639) • Определение процентного соотношения сорбитообразного перлита к пластинчатому. Дисперсность перлита. • Методика оценки реечного бейнита. • Анизотропия бейнита. • Методика оценки качества двухфазных титановых сплавов. • ГОСТ 26492. Определение размера зерна в титановых сплавах. • Межкристаллитная коррозия. • Определение доли эвтектики в алюминиевых сплавах • Оценка степени гомогенизации алюминиевых сплавов • Оценка дисперсности эвтектики в алюминиевых сплавах • Оценка микропористости в алюминиевых сплавах • Оценка частиц Mg2Si в алюминиевых сплавах • Оценка качества лигатур Al-Ti-B • Оценка неметаллических включений PoDFA. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Инструктаж трех специалистов Заказчика по работе на оборудовании с допуском к обслуживанию оборудования на предприятии Заказчик: Наличие. Указание по заполнению: Значение характеристики не может изменяться участником закупки.
- Количество
- 1 Штука
- Распределение по заказчикам
- Распределение отсутствует в XML
- Цена
- 1 299 520,00 руб. за единицуВсего 1 299 520,00 руб.
- Дополнительные признаки
- Ограничение иностранных товаров